IFSC Labor

Mikroskopiesystem: PerkinElmer Spotlight 200 FT-IR
















Standort des Gerätes

NC 04/129


Verantwortlicher für das Gerät mit Kontaktinformation

Lisa Feldhaus
NC 02/168
Telefon: 27344
email: lisa.feldhaus[@]rub.de


Verantwortlicher PI

Wolfgang Schuhmann


Kurzbeschreibung des Gerätes

Hersteller: Perkin Elmer

Das FT-IR-Mikroskopiesystem besteht aus dem FTIR-Spektrometer, der Mikroskopieeinheit, der Probentischsteuerung, der Systemsteuerung sowie der Spotlight- und Spectrum-Software.

Das Spectrum System besteht aus:
a) schnell scannenden Spektrometer: In Verbindung mit dem Spotlight Imager können bis zu 80 Scans/Sec. aufgenommen werden.
b) abgedichtete und getrocknete Optik: Das schützt feuchtigkeitsempfindliche Bauteile und reduziert den Einfluss veränderlicher atmosphärischer Absorptionen.
c) Probenkammer mit leicht abnehmbarer Abdeckung und Service-Zugang
d) Look-Ahead: Erkennt, wann eine Probe in die Probenkammer eingesetzt wird und misst ein Probenspektrum. Backgroundspektren werden automatisch im Leerbetrieb gemessen
e) Netzwerkbetrieb: Die TCP/IP-Schnittstelle ermöglicht die Verbindung zu einem PC und/oder zu einem lokalen Netzwerk.
f) DTGS-Detektor
g) Wellenzahlbereich: 7.800-350 cm-1 enthält einen Ge-beschichteten KBr-Strahlteiler
h) Spektrale Auflösung: Kleiner als 0,5 cm-1

Das Spotlight Mikroskop System ermöglicht die Betriebsarten Transmission, Reflektion und ATR mit dem Einzelelement-Detektor. Der Wechsel vom sichtbaren zum infraroten Spektralbereich erfolgt ohne mechanisch bewegte Komponenten.
- Wellenzahlbereich: 7.800-600 cm-1
- Spektrale Auflösung: besser als 0,5 cm-1


Für welche Art von wissenschaftlichen Fragestellungen / Experimenten ist das Gerät geeignet?

Das PerkinElmer Spectrum 200 FT-IR-Mikroskop-System identifiziert und analysiert kleinste Proben bis zu einer Größe von 10 μm aufgrund ihres einzigartigen Infrarot-Spektrums. Durch die vollständige Automation des Systems und Integration aller Einzelkomponenten ist es leicht zu bedienen. Die Flexibilität und die hohe Empfindlichkeit ermöglichen die Untersuchung auch von äußerst anspruchsvollen Proben.


Hinweise zur Gerätenutzung

auf Anfrage